AEM:解决应用难题,SiO负极为何失效,如何改进?

研究背景

硅基材料(如Si和SiO)预计将取代石墨(372 mAh g−1),以增加锂离子电池(LIB)的能量密度,因为它们的比容量很高(Si为4200 mAh g−1)。然而,硅的高容量被其在锂化过程中的显著体积膨胀(≈400%)所抵消,这会粉碎其颗粒,导致硅颗粒与电极失去接触。硅和电解质之间的副反应形成SEI,该界面在锂化/去锂化循环中不稳定,并持续消耗电解质,导致SEI变厚和Li+运输恶化。这些问题导致循环效率低下和容量损失迅速。
SiO的理论容量约为2400 mAh g−1,体积膨胀小得多(≈200%),与Si相比,SiO对LIB来说更实用。然而,经过几十年的实验和理论努力,SiO材料的准确结构模型仍然有争议。提出了两个结构模型,随机混合(RM)和随机键(RB),以解决SiO的组成和价分布。RM模型假设SiO是非晶SiO2和非晶Si的化学计量混合物,而RB模型假设硅存在,价态为0到+4,随机连接氧原子。
最近的一项研究表明,Si纳米簇(Si0)被非晶SiO2基底(Si4+)包围。一些界面区域存在价为+1、+2和+3的Si。SiO独特的组成和结构使其能够提供比Si阳极更大的循环性能。原因是非晶SiO2基底和锂离子在初始锂化过程中,形成不可逆的Li2O和硅酸锂。两者都可以作为缓冲相,有效缓解Si纳米簇的显著体积变化。然而,不可逆的反应也造成了重大的容量损失,初始库仑效率低(ICE)。
因此,SiO阳极的容量损失比商用石墨阳极更快,尽管比Si阳极慢得多。其他失效机制包括内在的低导电性,循环过程中体积变化引起的电隔离效应,以及与电解质的大量副反应。减轻这些失效机制对于LIB中SiO的商业化至关重要。
为了提高SiO阳极的电化学性能,已经进行了一些方法,包括导电涂层、结构设计和化学蚀刻。这些方法通常涉及热处理过程来煅烧与SiO相关的前体。然而,到目前为止,热处理对SiO微观结构的影响尚未得到充分研究,可能是由于其热不稳定。热处理可以加快SiO的歧化反应:
2SiO→Si+SiO2
更高的温度(>800°C)和更长的加热时间可以加速这种反应,并促进Si和SiO2相分离,Si相的纳米簇尺寸和结晶度增加表明了这一点。对SiO的深入研究表明,Si和SiO2相的生长和分离会显著影响其电化学性能。例如,随着介质SiO2基相的致密,歧化后的SiO材料(D-SiO)的电阻会增加。因此,D-SiO在锂化过程中变得惰性。然而,在这个问题上仍有一些悬而未决的问题:
1)SiO阳极颗粒的表面组成和结构在热处理过程中如何变化?之前报告侧重于其体积特性,而不是表面,表面在电化学行为中起着关键作用,包括SEI的形成、初始锂化和电荷转移阻抗。D-SiO初始锂化中出现的过电势尚未得到彻底研究。
2)在热处理过程中经常观察到的“Si纳米线”的形成机制是什么?据报道900到1100°C加热时在SiO颗粒表面形成“Si纳米线”,这些纳米线被认为有利于SiO阳极的电化学性能。然而,该报告未能对其形成机制、合成气氛、分布和含量进行详细分析。
3)在热处理过程中,碳涂层如何影响SiO材料的成分和微观结构演变?
4)成分和微观结构演变如何影响SiO阳极的电化学性能?几位研究人员研究了热处理对首效(ICE)和SiO阳极循环寿命的影响,但他们的结果往往相互矛盾。

成果简介

为了阐明这些基本问题,北达科他大学Xiaodong Hou(通讯作者)对这个问题进行了系统研究,成果发表在能源顶刊Advanced Energy Materials上。
AEM:解决应用难题,SiO负极为何失效,如何改进?
作者首先使用一系列微观分析技术,如SEM、拉曼和XRD,研究热处理和碳涂层过程对SiO形态、微观结构和化学成分的影响。作者的工作重点是分析Si和SiO2阶段在此过程中的动态演变。作者进一步分析和比较了三种阳极颗粒,即原始SiO(P-SiO)、D-SiO(歧化后的SiO)和碳涂层D-SiO(D-SiO@G),采用X射线吸收近边缘结构光谱(XANES)技术(Li-K和Si L-edge)循环,辅之以电池循环寿命和电化学阻抗光谱(EIS)测试。
结果表明,热处理过程中的“纳米线”由硅和氧组成,原子含量分别为48.0%和52.0%。硅与氧的原子比(≈1:1)表明,所谓的“Si纳米线”主要是SiO,由SiO升华和随后在高温下SiO蒸气沉积形成。SiO在热处理过程中的结构转变,从非晶结构到歧化反应形成的分层结构,在此过程中,外部的SiO2外壳和内部的SiO2基体严重极化电极,阻碍了锂化过程。随后导致严重过电位,导致容量损失和循环寿命恶化。SiO上的碳涂层防止了电解质和SiO材料之间的副反应,有效地限制了SiO2外壳的生长,并促进了电荷转移,从而提高了电化学性能。石墨烯涂层也显著增加了ICE(79.3%)。
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最后,作者提出了一个示意图模型,以揭示热处理、由此产生的结构演变和相应的电化学行为之间的关系。模型解释如下:
P-SiO在周围的非晶SiO2基质中具有Si纳米簇,在锂化过程中提供相当大的放电容量。P-SiO的高温热处理触发歧化反应,加快了Si和SiO2相分离,并形成更惰性和密度更高的SiO2基质和更大的Si纳米簇。高温还升华了一定量的SiO,产生SiO蒸气,SiO蒸气部分沉积在样品粉末的顶部,形成Si纳米线,而一定比例的凝结并沉积在周围的SiO颗粒表面,氧原子倾向于向外富集,形成SiO2外层。
XANES分析和与P-SiO相比的容量损失证明,D-SiO的锂化是不够的,因为:1)SiO2相,包括外部SiO2壳和内部SiO2基质,具有更高的锂化能垒,仅部分参与锂化反应,2)表面的SiO2壳阻碍了Si相的锂化,因为锂离子在与内部Si纳米簇反应之前必须通过它迁移,导致最大过电位。当在更高的温度和更长的时间下处理时,外部SiO2外壳变得足够厚,以防止锂离子通过,并导致锂沉积到D-SiO表面,导致巨大的容量损失。
石墨烯涂层工艺通过在高温下限制SiO升华,促进通过表面的电荷转移,并防止SiO和电解质之间的副反应,从而显著限制了外部SiO2外壳的生长,从而导致更薄、更稳定的SEI、更高的ICE和更好的循环性能。

图文详情

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图1. 不同热处理条件后的SiO粉的表征
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图2. a) P-SiO, b) D-SiO-1000-8, c) D-SiO@G-1000-8的TEM照片,d) P-SiO, e) D-SiO-1000-8, f) D-SiO@G-1000-8的Si 2p XPS谱及其拟合峰
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图3. a) 不同热处理后SiO的第一、二次充放电曲线,b) SiO样品的过电位,c) D-SiO@G.的第一、二次充放电曲线
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图4. a) P-SiO, b) D-SiO-1000-8,c) D-SiO@G-1000-8电极在一系列SoL中的Li的K边XANES光谱。d) P-SiO, e) D-SiO-1000-8,f) D-SiO@G-1000-8电极在一系列SoL中的Si的L边XANES光谱
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图5. 不同SiO负极的电化学性能测试
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图6. a) 热处理诱导的SiO2的电化学行为与成分和微观结构关系示意图。b) D-SiO材料初始锂化过程示意图。c) 石墨烯涂层效果示意图

原文链接

Insights into the Effect of Heat Treatment and Carbon Coating on the Electrochemical Behaviors of SiO Anodes for Li-Ion Batteries. Adv. Energy Mater. 2022, 2200127
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/epdf/10.1002/aenm.202200127

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